OTSUKA大冢电子 - 铃田（上海）科技有限公司

产品列表

日本大冢量子效率测量系统QE-2000
日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000 日本大冢量子效率测量系统QE-2000
界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电...
界达电位OTSUKA大冢量子点评系统
界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电...
OTSUKA大冢-量子点评系统
OTSUKA大冢-量子点评系统量子点材料具有根据粒子直径不同发光波长发生变化的特性。在本系统中，在评价粒子直径以及分散稳定性的...
NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢
可检测单线态氧（活性氧）
量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢
可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散...
分子量测量系统ELSZneoOtsuka大冢
ELSZneo通过光散射评估物理特性　　　　进入新阶段]这是 ELSZ 系列的*高型号，可测量稀溶液至浓溶液中的 zeta 电位和粒径以及分子量。作为...
Zeta电位分子量测量系统ELSZ-2000ZS大冢Otsuka
除了常规的zeta电位和粒度测量之外，它是一种可以用稀到浓溶液测量分子量的设备。支持粒度测量范围（0.6 nm 至 10 μm）和浓度范围（0.00...
日本大冢分光配光测量系统GP-4000
日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000 日本大冢分光配光测量系统GP-4000
日本大冢量子效率测量系统QE-2100
日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100 日本大冢量子效率测量系统QE-2100
OTSUKA大冢激光粒度仪
界达电位OTSUKA大冢量子点评系统界达电位OTSUKA大冢量子点评系统激光粒径分析仪激光粒度仪激光粒径仪激光散射粒度分布仪固体表面zeta电...
日本大冢低相位差高速检查设备
日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200 日本大冢低相位差高速检查设备RE-200
日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备
日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材...
OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备
OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series OTSUKA大冢液晶层间隙量测设备RETS series
OTSUKA大冢医用机器荧光**色谱仪
是*适合Point Of Care Testing(POCT)的超小型**层析器。 OTSUKA大冢医用机器荧光**色谱仪 DiaScanα OTSUKA大冢医用机器荧光**色谱...
OTSUKA大冢医用机器血细胞**装置
本装置用于利用株式会社JIMRO的血细胞去除用净化器“阿达柱”去除血液中的颗粒球及单核细胞，是为了在低流量进行血液的体外循环的专用血球细...
OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZS
ELSZ-2000ZS OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统 OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子...
OTSUKA大冢-离散方式临床化学自动分析装置NS-Prime
NS-Prime OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器通过金胶体比色法，全自动航班中人海莫格罗宾分析装置可在航班中进行精密测量。医疗...
OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器MM6-N
MM6-N OTSUKA大冢-血球细胞去除用装置监视器动物监视器细胞细胞除去用净化器用细胞细胞除去为了进行使用的装置。每分钟30毫升的低速...
OTSUKA大冢-医用机器POCone
POCone OTSUKA大冢-医用机器是测量在呼气中的二氧化碳的同位体比（13C / 12C）的变化量的红外光分析装置。OTSUKA大冢-医用机器POCone...
血细胞去除装置Adamonitor SC大冢电子
本装置是使用JIMRO株式会社的血细胞去除净化器“Adacolumn”去除血液中的粒细胞和单核细胞，以低流量进行体外血液循环的装置。细胞。（医...
DiaScan a荧光**层析读数器大冢电子
超紧凑型**层析读取器，非常适合即时检测 (POCT)。
红外光谱分析仪 POConePlus大冢电子苏州售
3 C 使用带有医疗设备的呼气收集袋进行测量，该医疗设备用于使用尿素制剂的尿素呼气测试方法的呼气分析。它利用了碳同位素12 CO 2和13 CO...
离散临床化学自动分析仪 27B1X00055000008苏州售
是一种全自动粪便人血红蛋白分析仪，采用金胶体比色法准确测定粪便人血红蛋白。（医疗器械通报号27B1X00055000008）
OTSUKA大冢- 高灵敏度分光放射輝度計HS-1000
HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射輝度計从低亮度到高亮度可以高速·高精度的测量的分光辐射亮度计。使用电子冷却型的线性阵列传...
OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800
MCPD-9800/6800 OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/6800OTSUKA大冢- 多通道分光器MCPD-9800/68...
聚合物相结构分析系统PP-1000Otsuka大冢
它是一种可以使用小角度光散射方法在原位实时分析聚合物和薄膜结构的设备。与使用 X 射线或中子的设备相比，可以评估更大的结构（微米级）。
毛细管电泳Agilent 7100Otsuka大冢
可以使用单个设备分析不同的组分，例如阳离子和阴离子。使用少量样品即可进行短时间、高分辨率的分析。
示差折光仪Otsuka大冢苏州售
可以通过静态光散射法测量 dn/dc 来确定重均分子量。
静态光散射光度计 SLS-6500HLOtsuka大冢
优良分子量、惯性半径和**维里系数可以使用静态光散射方法测量。
动态光散射光度计DLS-8000Otsuka大冢
可以使用动态光散射法和使用静态光散射法测量优良分子量/惯性半径/**维里系数的粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）。
单元间隙检测装置RETS系列Otsuka
支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
彩色滤光片光谱特性测量仪LCF系列Otsuka
非常适合FPD生产过程中的所有检测，如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
非接触式光学深度计 Emios Otsuka大冢
“一步操作”是一种追求用户友好性的设备，无需任何繁重的工作，设置样品即可立即看到结果。该设备旨在缩短检测过程，无需校准曲线即可高...
超快光谱干涉式测厚仪Otsuka大冢
它以非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程，具有超高速、实时和高精度的晶片和树脂。
光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S Otsuka大冢
除了可实现高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实施自动可变测量机制支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转光子检测器方法外，还通过为...
嵌入式膜厚监控器Otsuk大冢苏州售
实现具有波长依赖性的高精度多层膜测量
膜厚监测仪 FE-300 Otsuka大冢苏州售
它是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，它通过简单的操作实现了高精度光学干涉测量的薄膜厚度测量。我们采用一体式外壳，将必要的设备安装在...
显微光谱 OPTM Otsuka大冢苏州售
它是一种通过使用显微光谱测量微小区域内的优良反射率，实现高精度膜厚和光学常数分析的设备。可以以非破坏性和非接触的方式测量各种薄膜...
光谱辐射计 HS-1000Otsuka大冢苏州售
能够从低亮度到高亮度进行高速、高精度测量的光谱辐射亮度计。大冢电子独特的光谱光学设计和信号处理电路采用电子冷却线阵传感器，实现了...
多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800Otsuka大冢
支持紫外到近红外区域的多功能多通道光谱检测器。光谱光谱可以在*少 5 ms 内测量。标准光纤可以在不指定样品类型的情况下支持各种测量系统。...
彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢
彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大...
小角激光散射仪PP-1000
小角激光散射仪PP-1000 激光散射仪小角PP-1000 小角激光散射仪PP-1000 小角激光散射仪PP-1000
多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 界达电位ELSZ 多检体NANO粒径测量系统多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
OTSUKA大冢界达电位ELSZ
OTSUKA大冢界达电位ELSZ 粒径量测系统 OTSUKA大冢界达电位ELSZ
单粒子荧光诊断系统Osuka大冢
可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
高速LED光学特性监视器LE Otsuka
它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
光谱辐照度测量系统Otsuka大冢
“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・可...
紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售
评估光源在紫外线区域的辐射。・通过光谱辐射度测量高精度测量亮度・支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围・可以进行光生物...
紫外光谱辐照度测量系统Otsuka
“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光的宽测量波长范...
紫外分光光度分布测量系统Otsuka
评估 UV LED 的光分布特性。・基于辐射强度/辐照度的光分布评估・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化用于**和树脂固化的光...
总辐射通量测量系统Otsuka大冢
评估 UV LED 的辐射通量。・性能更高的紫外线 LED 的输出评估・温度评估与温度控制单元相结合支持紫外线 LED 的光学特性评估，预...
总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢
它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。・可以通过控制光源的加热/冷却来评...
光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子
一种测量照明设备配光特性的装置。・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可...
OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S
ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统EL...
OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统阳离子和阴离子等不同的成分可以用一台装置进行分析。用微量样品可以进行短时间、高分辨...
OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
DRM-3000 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计可以根据静光散射法的重量平均分子量决定的dn / dc测量。 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DR...
OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000AS
FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径 FPAR和自动取景器的组合中，关于50检体的试料，可以进行粒子直径的自动测量。 ...
OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
FPAR-1000 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统从稀薄系到浓厚系，在广泛的浓度区域中的粒子直径测量 *适合分析胶体分散液和拉拉力的分...
OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series
DLS-6500series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计可测量使用动态光散射法的粒子直径、粒子直径分布（粒径、粒径分布）。 OTSUKA大冢- 动...
OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统...
OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA
nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒...
OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000series
DLS-8000series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计用动态光散射法的粒子直径·粒子直径分布（粒径·粒径分布）测量和使用静光散射法的优良...
OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 电位测量系统 OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S
OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL
SLS-6500HL OTSUKA大冢- 静态光散射光度计可以测量使用静光散射法的**分子量、惯性半径、**胆量系数。 OTSUKA大冢- 静态光散...
OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计根据固体激光和高灵敏度检测器（冷却型光电子倍增管），可以测量0.5nm～5000 nm的粒...
LCD评估装置（面板/模块检查） LCD系列 Otsuka
LCD面板模组的电光特性
OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400...
OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800
MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可...
OTSUKA大冢-照度测量系统IL100
IL100 OTSUKA大冢-照度测量系统从分光放射照度测定中高精度地测定照度。 ·从紫外到可见、红外的广泛测量波长范围。 ·可以选择...
OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV
GP-7 series 600UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 60OTSUKA大冢-紫外高速...
OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV
GP-7 series 300UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统紫OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UVOTSUKA大冢-紫...
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个...
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500
GP-500 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波...
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000
GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个...
OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV
FM-9015UV OTSUKA大冢-UV测定装置 OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVOTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UVO...
OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800
MCPD-9800 OTSUKA大冢-多通道分光器对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可...
OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV
GP-7 series 1000UV OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UVOTSUKA大冢-紫...
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100
GP-1100 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7s...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600
GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7se...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300
GP-7 series 300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 ...
OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
MR-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MR-2000
OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
MPRT-2000 OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000OTSUKA大冢-动画特性测量装置MPRT-2000
OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
HS-1000 OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-...
OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1
GC-1 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器实现真正的黑屏！把黑色的差异数值化。 OTSUKA大冢-千兆对比度检测器GC-1OTSUKA大冢-千兆对比...
OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF series
LCF series OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置 OTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF seriesOTSUKA大冢-滤色器分光特性测量装置LCF ...
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。可以测量10μm的...
OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000
QE-5000 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统 OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定系统QE-5000OTSUKA大冢-高灵敏度NIR量子效率测定...
OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000
DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢...
OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100
QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率测量系统 OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测量系统QE-2100OTSUKA大冢-量子效率测...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000
　QE-2000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统QE-2000OTSU...
OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器LE series
LE series OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器是能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-54...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统RH50
RH50 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统对应微LED等微小样品的配光测定系统RH50.。与光学模拟软件的联合是可能的，可以简单地高速...
OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统测量照明设备配光特性的装置。 OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000
GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300
GP-7 series300 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series300OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series
GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 s...
OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM series
HM/FM series OTSUKA大冢-全光束测量系统 OTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全光束测量系统HM/FM seriesOTSUKA大冢-全...
OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series
GP series OTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP seriesOTSUKA大冢-分光配光测量系统GP series的装置。
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series
GP-7 series OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7seriesOTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7se...
OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series
RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备...
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600
GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 600OTSUKA大冢-高速近场配光测量系...