光测系统装置 - 铃田（上海）科技有限公司

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彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢
彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大...
小角激光散射仪PP-1000
小角激光散射仪PP-1000 激光散射仪小角PP-1000 小角激光散射仪PP-1000 小角激光散射仪PP-1000
多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA 界达电位ELSZ 多检体NANO粒径测量系统多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA
OTSUKA大冢界达电位ELSZ
OTSUKA大冢界达电位ELSZ 粒径量测系统 OTSUKA大冢界达电位ELSZ
单粒子荧光诊断系统Osuka大冢
可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
高速LED光学特性监视器LE Otsuka
它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
光谱辐照度测量系统Otsuka大冢
“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・可...
紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售
评估光源在紫外线区域的辐射。・通过光谱辐射度测量高精度测量亮度・支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围・可以进行光生物...
紫外光谱辐照度测量系统Otsuka
“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光的宽测量波长范...
紫外分光光度分布测量系统Otsuka
评估 UV LED 的光分布特性。・基于辐射强度/辐照度的光分布评估・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化用于**和树脂固化的光...
总辐射通量测量系统Otsuka大冢
评估 UV LED 的辐射通量。・性能更高的紫外线 LED 的输出评估・温度评估与温度控制单元相结合支持紫外线 LED 的光学特性评估，预...
总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢
它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。・可以通过控制光源的加热/冷却来评...
光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子
一种测量照明设备配光特性的装置。・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可...