Otsuka大塚电子 - 铃田（上海）科技有限公司

产品列表

Otsuka单元间隙检测装置RETS系列
支持从反射/透射型 LCD 封闭单元到带彩色滤光片的空单元的各种单元
苏州代理OTSUKA激活测量仪 RETS-100nx
支持OLED用偏光板、层叠型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。实现与超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度测量...
苏州代理OTSUKA 线扫描膜厚仪在线式
它是一种可以在在线薄膜生产现场测量薄膜厚度的设备。通过将开创的光谱干涉仪与新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以 0.01 秒的...
苏州代理OTSUKA光谱干涉晶片测厚仪SF-3
在晶圆等的研磨和抛光过程中，晶圆和树脂的厚度以超高速和高精度非接触式测量。
苏州代理大冢电子光谱椭偏仪 FE-5000 / 5000S
除了可以进行高精度薄膜分析的光谱椭偏仪外，我们还通过实现测量角度的自动可变机构来支持所有类型的薄膜。除了传统的旋转式光子检测器方...
苏州代理大冢电子膜厚监测仪FE-300
它是一种紧凑且价格低廉的薄膜厚度计，通过高精度光学干涉法实现薄膜厚度测量，操作简单。我们采用一体式外壳，将必要的设备容纳在主体中...
苏州代理日本Otsuka显微分光膜厚仪OPTM
OPTM 是一种通过使用显微光谱法测量微小区域的优良反射率，实现高精度薄膜厚度和光学常数分析的设备。各种薄膜、晶片、光学材料和多层...
苏州代理光纤动态光散射光度计 FDLS-3000
使用固态激光器和高灵敏度检测器（冷却光电子双管），可以测量0.5纳米至5000纳米颗粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
OTSUKA大塚电子动态光散射光度计 DLS-6500series
粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用动态光散射法测量。
苏州OTSUKA大冢电子动态光散射光度计 DLS-8000
可以使用动态光散射法测量粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）和使用静态光散射法测量优良分子量/惯性半径/秒维里系数。
OTSUKA大冢电子高灵敏度差示折光仪 DRM-3000
通过注射器方法可以很容易地进行样品注入。数据处理很容易，因为控制和数据采集是从个人计算机执行的。可以进行低噪音、高稳定性和良好...
OTSUKA大冢电子 nanoSAQLA带自动进样器 AS50
nanoSAQLA的特点 1台轻松连续测定5个样品实现了没有自动进样器难以实现的多个样品的连续测定也可以通过改变每个样品的条件进行测量。 ...
OTSUKA多检体纳米粒径量测系统 nanoSAQLA
一台5检体轻松连续量测一键测定简易功能对应低浓度到高浓度标准测定时间一分高速测定非浸入式、非分注式连续量测搭载温...
OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000S
*新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进...
OTSUKA大冢电子Zeta电位测量仪ELSZ-2000Z
*新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进...
OTSUKA大塚电子粒径量测仪ELSZ-2000ZS
特殊长度 *新的高灵敏度APD实现了更高的灵敏度和更短的测量时间通过自动温度梯度测量可以进行退化/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温...
OTSUKA大冢电子zeta电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-neo
特殊长度可以在从稀溶液到浓溶液 (~ 40%) * 1的宽浓度范围内测量粒度和 zeta 电位。多角度测量能够以高分辨率测量粒度分布高盐浓度下...
OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000S
铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000S，粒径测量仪，ZETA电位仪
OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000ZS
铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZ-2000ZS，粒径测量仪，ZETA电位仪
OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪SAQLA
铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪SAQLA、ELSZneo，粒径测量仪，ZETA电位仪
OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪 ELSZneoSE
铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪 ELSZneoSE、ELSZneo，粒径测量仪，ZETA电位仪
OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZneo
铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚电子苏州代理粒度分析仪ELSZneo，粒径测量仪，ZETA电位仪
代理OTSUKA大塚电子半导体SIO测厚仪OPTM-F3
铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子半导体SiC测厚仪OPTM-F3，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
代理OTSUKA大塚电子半导体SiC测厚仪OPTM-F2
铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子半导体SiC测厚仪OPTM-F2，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
OTSUKA大塚电子显微分光膜厚仪OPTM-F1代理
铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子显微分光膜厚仪OPTM-F1，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测
OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A2显微分光膜厚仪
铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A2显微分光膜厚仪，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测 ...
OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A1显微分光膜厚仪
铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子自动XY型OPTM-A1显微分光膜厚仪，OTSUKA大塚半导体行业Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等检测 ...
嵌入式膜厚仪FE-5000
在高精度薄膜分析的光谱椭偏仪之上，增加安装了测量角度可自动变化装置,可对应所有种类的薄膜。在传统旋转分析仪法之上，通过安装相位差板自...
高速配光测量系统GP-7
它是一种单独评估光源或光学材料光分布的设备。实现10分钟的测量时间，颠覆分布测量常识！仅一次测量可捕获每个空间照度！支持其他公...
相位差膜・光学材料检查设备　RETS-100
对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
高灵敏度NIR量子效率测量系统QE-5000
可以检测到单重态氧（活性氧）　
单粒子荧光诊断系统
基于与NIMS共同开发的单颗粒诊断方法*的测量是可能的。 * 与国立材料科学研究所，弘前直人研究员和武田隆史研究员共同研究
量子效率测量系统QE-2000 / 2100
可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末，溶液，固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外线区域...
线扫描膜厚仪[离线型]
该设备可以轻松地离线检查面内膜厚不均，以进行膜的研发和质量控制的抽样检查。可以高速且高精度地测量整个表面。
彩色滤光片光谱特性测量装置
它是FPD生产过程中所有检查的理想选择，例如滤色片光学性能检查和玻璃基板薄膜厚度检查。
参考测量仪RETS-100nx
它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。实现与超高Re.60000 nm兼容...
单元间隙检查装置RETS系列
支持从反射/透射型LCD填充电池到带有彩色滤光片的空电池等各种电池
紫外线分光光度测量系统
“紫外光谱辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区域中的辐照度。・从分光光度计测量可高精度地测量照度・从紫外线到可见光的测量波长范...
紫外分光光度计
评估紫外线区域中光源的辐射度。・通过分光辐射度测量可以高精度地测量亮度・支持紫外，可见光和红外的宽波长测量范围・可以进行光生物...
紫外光谱光分布测量系统
评估UV LED的光分布特性。・根据辐射强度/辐照度评估光分布・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化**和树脂固化光源的不...
紫外线光谱总辐射通量测量系统
评估UV LED的辐射通量。・高性能紫外线LED的输出评估・结合温度控制单元的温度评估支持 UV-LED的光学特性评估，该技术有望进行**...
兼容装载口的膜厚测量系统GS-300
它是一种具有图案匹配功能且XY定位精度为2um或更小的系统。
高速相位差测量仪RE-200
高精度控制光轴！3σ≤0.02°用于低延迟测量
线扫描膜厚仪[在线型]
它是一种可以在薄膜生产现场在线测量薄膜厚度的装置。通过将原来的光谱干涉法与*新开发的高精度膜厚计算处理技术相结合，可以以至少测量间...
总光通量测量系统HM / FM系列
它可以测量从LED到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围 ·通过控制光源的加热/冷却可以评估...
光谱分布测量系统GP系列
一种测量照明设备的配光特性的设备。・使用内部开发的分光镜可以实现高精度的测量！ -可以与配光数据一起测量颜色！- 即使在光谱测量...
超快光谱干涉型测厚仪
它以超高速，实时，高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。
光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S
除了可以进行高精度薄膜分析的椭圆偏振光谱仪之外，我们还通过实现自动可变测量机制来支持所有类型的薄膜。除了常规的旋转光子检测器方法...
膜厚计FE-300
它是一种紧凑且价格低廉的膜厚计，可通过高精度光学干涉仪以简单的操作实现膜厚测量。我们采用了一体式的机壳，在主机中容纳了必要的设备...
多通道光谱仪MCPD-9800
多功能多通道光谱检测器，支持紫外线至近红外区域。光谱光谱至少可以在5毫秒内测量。标准光纤无需指定样品类型即可支持各种测量系统。除了显...
OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000
OTSUKA大冢高灵敏度光谱辐射仪HS-1000
多通道光谱仪MCPD系列，用于膜厚测量
多通道光谱仪MCPD系列，用于膜厚测量