产品资料

苏州代理OTSUKA激活测量仪 RETS-100nx

型号：

简介：

支持OLED用偏光板、层叠型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各种薄膜的相位差测量装置。实现与超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度测量。可以“无剥离”和“无损”测量薄膜的层压状态。此外，它配备了简单的软件和校正功能，支持由于样品重新定位而导致的错位，从而实现简单且高精度的测量。

详情介绍

规格

模型	饱和度测量装置 RETS-100nx
测量项目（薄膜、光学材料）	Ritalization（波长色散）、慢相轴、Rth ^{* 1}、3D 折射率^{* 1}等
测量项目（偏光板）	吸收轴、偏振度、消光比、各种色度、各种透过率等。
测量项目（液晶单元）	单元间隙、预倾角^*1、扭曲角、配光角等
活化测量范围	0-60,000nm
重复性	3σ≤0.08nm（晶体波片约600nm）
单元间隙测量范围	0 至 600 μm（当 Δn = 0.1 时）
单元间隙重复性	3σ ≤ 0.005 μm（当单元间隙约为 3 μm 且 Δn = 0.1 时）
轴检测重复性	3σ≤0.08°（晶体波片约600nm）
测量波长范围	400-800nm（可提供其他选择）
探测器	多通道光谱仪
测量直径	φ2mm（标准规格）
光源	100W卤素灯
数据处理部	个人电脑、显示器
舞台尺寸：标准	100mm x 100mm（固定载物台）
选项	・超高延迟测量・多层测量・轴角校正功能・自动XY台・自动倾斜旋转台

* 1 需要自动倾斜旋转平台（可选）

产品信息

特殊长度

只有独特的分光镜才能完成的高精度测量

■ 高精度

通过多波长测量实现高精度
λ / 4、λ / 2 等在短波长下难以测量的结果可以作为近似值获得。可以在不受膜厚干涉波形影响的情况下获得结果。
<高精度的原因> -使用独特
的高性能多通道光谱仪-
由于　　　可以获得大量的透射率信息，因此可以进行高精度测量
（获得的透射率）。约500个波长，是其他公司产品的约50倍）