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OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000

型号: DF-1000
简介:

DF-1000 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统 快速测量透过荧光的面内色度分布 OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统DF-1000

详情介绍
QE-2000DF-1000
   OTSUKA大冢-在线荧光体薄膜检测系统

特长
采用新型受光头,实现快速、高精度的测量。
非接触样品,可进行表面色度分布测量。
内置校准功能可实现长期稳定的测量。
可针对R&D、质量控制、线内测量、接收检测等应用进行定制。
快速、多点自动测量。
测量值是JCSS托盘辅助。

测量项目
透射荧光光谱。
相关的颜色温度。
色度(x,y)。
胶片厚度(可选)。

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用途
LED荧光板。
(YAG,TAG,SiAlON,CASN,正硅酸盐,La酸氮化物,量子点等)。
远程反馈材料。
陶瓷荧光体板透过荧光光谱


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