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产品资料

OHKURA无纸记录仪

嵌入式膜厚监控器Otsuk大冢苏州售

型号：

简介：

实现具有波长依赖性的高精度多层膜测量

详情介绍

使用光谱干涉法的薄膜厚度计
配备高精度FFT膜厚分析引擎？（砖利号4834847）
光纤可构建自由测量系统
可并入各种制造设备
可实时测量膜厚
支持远程控制和多点测量
采用长寿命、高稳定性的白光 LED 光源

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