产品资料

OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series

型号： RETS series

简介：

RETS series OTSUKA大冢-单元间隙检查设备从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应 OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series

详情介绍

QE-2000QE-5000OTSUKA大冢-单元间隙检查设备

从反射型·透射型的液晶封入单元到彩色过滤空单元的广泛对应

OTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS seriesOTSUKA大冢-单元间隙检查设备RETS series

特长
采用偏振光光系统和多通道分光检测器。
从1mm尺寸的光学元件到第10代的大型基板，各种尺寸。
支持的设备列表。
通过**措施和粒子对策，应对液晶线内的检查设备。

测量项目
填充单元间隙。
扭曲角*。
拉杆角*。
前倾角[TN，IPS，FFS，MVA]*。
空单元格间隙*。
修复(双折射相位差)的波长分散*。
光学轴*。
椭圆值/方位角*。
三维折射率/Rth/β*。
光谱/色度*

测量主题
液晶单元。
-透明、半透明液晶单元(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、铁电)。
-反射液晶屏(TFT、TN、IPS、VA)。
光学材料。
-其他(相位差、椭圆、偏振片、液晶材料)

仕　様

型式	RETS series
サンプルサイズ	20mm×20mm ～ ^*
セルギャップ測定範囲	0.1μm ～数10μm
セルギャップ繰り返し性	±0.005μm
検出器	マルチチャンネル分光光度計
測定波長範囲	400nm ～ 800nm
光学系透過用偏光子ユニット	偏光光学系消光比 10^-5グラントムソンプリズム内蔵自動回転（角度精度0.1°）、自動脱着機構
測定スポット径	φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機構	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等

*　大型ガラス基板にも対応可能（2000mm×2000mm以上）

リタデーション（複屈折位相差）の波長分散とセルギャップ値

ギャップ面内分布データ