屈曲試験を具現化するアタッチメント（試験治具）- JIG - 無張力屈曲試験治具 サンプルの屈曲動作に連動してサンプルの下部クランプが上下スライドします。 曲げRを変更することも可能です。（R2.5～R100） 試験機器全体構成 組合完成図
サンプルに重錘による張力を与えず屈曲試験が可能。 サンプルの両端のクランプ間をロープで接続することによって、耐久試験駆動部分のクランプが揺動動作をするとき、もう一方のクランプが連動してスライドする仕組みです。よって重錘でサンプルに張りを与えなくても安定した曲げ半径での屈曲試験が可能です。 屈曲角度、屈曲速度は任意設定可能。 屈曲角度は0°〜±180°の間で、屈曲速度は5〜90往復／分の間でそれぞれ任意設定できます。 揺動曲げ試験にも対応可能。 無張力試験治具を外し、標準品である振れ止め治具に取り付けることで標準の揺動曲げR試験に使用できます。
対象サンプル 線状体サンプル・・・ ケーブル（電線・光ファイバ） ハーネス チューブ ワイヤー 繊維 など 面状体サンプル・・・ フレキシブルディスプレイ 有機ELデバイス バリアフィルム フレキシブル基板 フラットケーブル など