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OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计代理

型号：

简介：

OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计铃田科技用简单操作实现了高精度的光干涉法的膜厚测量的小型低价格的膜厚计。采用了将必要的机器收纳在本体部的多功能一体式机箱，实现了稳定的数据获取。虽然价格低，但通过取得**反射率，也可以分析光学常数。

详情介绍

OTSUKA大塚电子FE-300F光学测量膜厚计铃田科技中国代理

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特征

体积小、成本低且易于操作的薄膜厚度测量
可通过选择光谱仪和光源来选择测量膜厚度范围
简单的状态设置和测量操作。任何人都可以轻松测量
配备实时监控和模拟功能
测量光斑直径φ3mm（标准）支持
从薄膜到3nm~35μm厚膜的广泛测量

测量项目

**反射率测量
薄膜厚度分析（10层）
光学常数分析（n：折射率，k：衰减计数）

测量对象

功能膜、塑料：
透明导电膜（ITO、银纳米线）、阻滞膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、胶粘剂、保护膜、硬涂层、防指纹剂等。
半导体化合物半导体
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蚀剂、碳化硅、砷化镓、氮化镓、镓、蓝宝石等
表面处理
DLC涂层、防锈剂、防雾剂等
光学材料
滤光片、增透膜等
FPD
液晶显示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有机膜，密封胶）等。
其他
硬盘、磁带、建筑材料等

测量波长范围	300~800nm
测量膜厚范围（SiO₂转换）	3纳米~35微米
光斑直径	φ1.2毫米
样本量	φ200×5（高）毫米
测量时间	0.1~10s内
权力	交流100V±10% 300VA
尺寸、重量	280（宽）×570（深）×350（高）毫米、24公斤
其他	参考板、配方准备服务

软件屏幕

代理品牌：OTSUKA大塚电子（薄膜测厚仪、偏光片检测、纳米粒度分析仪、ZATA电位仪、相位差膜·光学材料检查设备、液晶层间隙量测设备等）、SANKO三高、NPM日脉、东机产业（粘度计）、CCS（视检查光源）、Aitec（视检查光源）、REVOX莱宝克斯（视检查光源）、EYE岩崎（UV汞灯）、SEN 日森、SERIC索莱克、各类日本光源索尼克（风速计、流量计等）、坂口电热（加热器、制冷片）、NEWKON新光（针孔机）、NS精密科学（柱塞泵、高压耐腐蚀防爆泵）、SIBATA柴田科学、SAKURAI樱井

优势品牌：AND艾安得、TOA-DKK东亚电波、JIKCO吉高、RKC理化工业、KYOWA共和、IIJIMA饭岛电子、HORIBA堀场、EXCEL艾库斯、HEIDON新东科学、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC欧阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden东京光电、DSK电通、SAGADEN嵯峨电机、FUNATECH船越龙、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林时计、MACOME码控美、TML东京测器等等各日本品牌工业产品

铃田（上海）科技有限公司代理、直营各日本品牌工业产品，联系人：张小姐

联系电话（微信）：15902189399