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日本SANKO山高SWT-NEOII.膜厚计,膜厚计专用探头SFe-2.5 优势供应铃田科技苏州供应
特征
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探头兼容性允许与主机进行任何组合。
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根据被测物体的不同,可以连接铁基体(电磁型)或有色金属基体(涡流型)。
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可以根据应用和测量范围选择探头,例如适用于测量微观碎片的高稳定性探头。
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自动识别和判断贱金属 (SFN-325)。
OTSUKA
大塚电子(薄膜测厚仪、偏光片检测、纳米粒度分析仪、ZATA电位仪、相位差膜·光学材料检查设备、液晶层间隙量测设备等)、SANKO三高、
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产品名称: 日本SANKO山高膜厚计专用探头SFe-2.5
产品型号:
产品展商: SANKO山高
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日本SANKO山高膜厚计专用探头SFe-2.5
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