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产品资料

OHKURA无纸记录仪

Otsuka大塚内置膜厚监测仪

型号：大塚内置膜厚监测仪

简介：

Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪Otsuka大塚内置膜厚监测仪

详情介绍

内置膜厚监测仪

高度**地测量与波长相关的多层薄膜！

产品资讯
设备配置
测量例

产品资讯

特殊长度

使用光谱干涉法的膜厚计
配备高精度FFT膜厚分析引擎？（**号4834847）
可使用光纤构建免费的测量系统
可纳入各种制造设备
可以实时测量膜厚
支持远程操作和多点测量
使用长寿命，高度稳定的白色LED光源

测量项目

膜厚

用法

光学膜（硬涂层，AR膜，ITO等）
与FPD有关（抗蚀剂，SOI，SiO ₂等）

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