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产品资料

日本大冢线扫描膜厚仪离线型

型号: 线扫描离线型
简介:

日本大冢线扫描膜厚仪离线型 日本大冢线扫描膜厚仪离线型 日本大冢线扫描膜厚仪离线型

详情介绍

线扫描膜厚仪[离线型]


产品信息

特点

·**·高速·高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

·硬件·软件均为**设计

·作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

·实现高精度测量(已取得砖利)

·实现高速测量(500万点以上/分)

式样

测量例

250mm宽的薄膜案例

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