本设备操作简单，放置样品即可测量的。一步到位。
缩短检查工程，无标准曲线，精度高，分辨率高，轻松测量样品的**厚度。
光学方式为大冢电子**，不仅外形小巧，无论透明・粗糙还是易变形的样品，都可以实现非接触式的高精度测量。
产品信息
特长
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非接触式测量不透明、粗糙，易变形的样品
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反复性・再现性高
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无标准曲线也可知道**厚度
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测量径很小，不受斑点的影响
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样品位置无需调整，放进去即可。
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稳定性高，不会产生误差，所以谁都能操作。
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光学方式原理所以**
式样
构成图・原理
构成图
任何人都会测量
原理
将光分别照射样品上下部
测量距离基准面的距离。
d=dall-(d1+d2)
比较测量方法
样品例子和测量方法的比较
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非接触光学膜厚仪
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接触式膜厚仪
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X线式膜厚仪
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変位計
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样品
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凝胶片
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○
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×
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○
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○
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不织布
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○
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×
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○
|
×
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金属板
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○
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○
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○
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○
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树脂
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○
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○
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○
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○
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多孔质
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○
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△
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○
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×
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陶瓷
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○
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○
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○
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×
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紙・木
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○
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○
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○
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×
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测量
条
件
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测量时间
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○ 高速
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○
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○
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○
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非接触测量
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○ 非接触
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×
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○
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○
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前处理
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○ 不要
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○
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×
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○
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测量案例
