产品资料

Marktec码科泰克UV探伤仪D-40

型号： D-40

简介：

Marktec码科泰克UV探伤仪D-40Marktec码科泰克UV探伤仪D-40Marktec码科泰克UV探伤仪D-40

详情介绍

·荧光探伤可以在高强度和大约100勒克斯的亮度下进行。
·体积小，重量轻，易于安装和维护。
·适用于均匀配光的图像处理。
- 可以安装可切割99％可见光的光晕切割滤光片。

-Mark Tech的黑光中
添加了一种模型（US PAT.6.525.315），其中可见光照射已被切断。
·改善工作环境·提高检测精度，具有从未做过的优越特性。请根据您的目的选择。

·荧光探伤
·污染检查
·泄漏检查
·确认脱脂清洁

※该图显示了在过滤器表面下方600 mm处的测量示例。