产品资料

OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计

型号：

简介：

OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计

详情介绍

FE-5000
特　長

フィルムなどの面内膜厚ムラ検査、**を高速・高精度に測定

ハード・ソフト共にオリジナル設計

膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート

分光測定による高精度な膜厚測定（特許取得）

高速に測定が可能（500万ポイント以上/分）OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计OTSUKA大冢-卓上型线扫描膜厚计

仕様

測定項目膜厚（FFT）

位置分解能 1mm 以下

測定サイズ *大250mm幅 × 長さ制限なし

波長範囲 400 ～ 920nm

1素子当たりの波長幅約 0.6nm

膜厚測定範囲 2 ～ 250μm

測定間隔 10msec ～

装置サイズ W600 × D680 × H1250mm

測定例

250mm幅のフィルムの場合

300mm幅のフィルムの場合

解析結果例：ソフト画面

測定項目	膜厚（FFT）
位置分解能	1mm 以下
測定サイズ	*大250mm幅 × 長さ制限なし
波長範囲	400 ～ 920nm
1素子当たりの波長幅	約 0.6nm
膜厚測定範囲	2 ～ 250μm
測定間隔	10msec ～
装置サイズ	W600 × D680 × H1250mm