OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
在线薄膜生产现场能够对薄膜的膜厚进行全幅、全长测量的装置。
通过在独自的分光干涉法中组合新开发的高精度膜厚演算处理技术，以每*短0.01 秒的测定间隔，可以进行500mm宽(1台使用时)的薄膜的膜厚测定。
特长OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计OTSUKA大冢-线扫描膜厚计
通过采用线扫描方式实现没有“脱落”的全长和全长胶卷检查
硬软件一起设计原创设计
因为是膜厚测定的专门制造厂，所以能够充实的支持
高精度测量（取得砖利）
高速可以测量
强制性强
宽的样本（可以在TD方向*大10m测量）
仕様
|
測定項目
|
膜厚（FFT）
|
|
位置分解能
|
1mm
|
|
測定幅
|
500mm
|
|
波長範囲
|
400 ～ 920nm
|
|
1素子当たりの波長幅
|
約 0.6nm
|
|
膜厚測定範囲
|
2 ～ 250μm
|
|
測定間隔
|
10msec ～
|
測定例
500mm幅の包装用フィルムの場合
