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产品资料

非接触式探测器KOSAKA小坂可测量12~500微米

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简介:

国内总代非接触式探测器KOSAKA小坂可测量12~500微米非接触式测量允许在不损坏样品的情况下进行测量。 紧凑的光学布置可实现内径的表面纹理测量,这在现有的非接触式检测器中是困难的。

详情介绍

国内总代日本kosaka小板非接触式探测器KOSAKA小坂可测量12~500微米


非接触式测量允许在不损坏样品的情况下进行测量。 紧凑的光学布置可实现内径的表面纹理测量,这在现有的非接触式检测器中是困难的。

  • 由于检测到与焦点位置的偏差量,因此没有根据形状移动的零件,因此可以进行高速测量。
  • 由于激光的光强度可以分20步改变,因此即使对于反射率低的工件也可以进行测量。
  • 自动停止功能可自动将探测器移动到焦点位置,无需对焦。
测量范围 12~500微米
分辨率 0.2~0.5纳米
光斑直径在测量范围内 约1~25μm
测量精度 1%+0.03微米
重复性 10纳米
激光 *大输出功率 2mW,635nm,1 类 (JIS C 6802:2011)



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