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产品资料

OHKURA无纸记录仪

江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SE

型号： Smart SE

简介：

江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SESmart SE 是一款通用型薄膜测量工具。测试速度快，准确。它可以表征几埃到20µm薄膜厚度、光学常数（n, k）以及薄膜结构特性（如粗糙度、光学梯度及各向异性等）。Smart SE是一款性价比极高的薄膜研发工具，以经济实惠的价格提供了研究级的性能。标配一套完整样品可视化系统，准确定位分析位置及区域，7个不同尺寸的微光斑可用于微区特征分析。

详情介绍

江苏HORIBA崛场智能型多功能椭偏仪Smart SE 国内各区域供应

标准配置

光谱范围： 450nm to 1000nm

光谱分辨率优于3nm

光源卤素灯和蓝光LED

测试时间小于1秒到10秒

光斑尺寸
75µm * 150µm, 100µm * 250µm,

100µm * 500µm, 150µm * 150µm,

250µm * 250µm, 250µm * 500µm,

500µm500µm

入射角 450 to 900 ，步径50

样品尺寸 200mm以内

样品准直手动调整样品台高度（17mm以内）和倾角

外形尺寸 100cm 46cm * 23cm(WHD)

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