产品资料

非接触式三坐标测量机MA系列MITAKA三鹰

型号： MA

简介：

MITAKA三鹰光器微透镜阵列（MLA）形状光学表征设备它配备了NH系列的所有基本形状测量功能，可以测量透镜和模具的横截面形状，并用专用软件集体测量曲率和中心坐标。

详情介绍

MITAKA三鹰光器长处

通过高精度图像处理可以评估镜头的光学特性

评估项目：有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF

同时测量多个微透镜阵列（MLA）

使用如下所示的测量光学系统用显微镜镜头放大平行光的集中图像（针孔狭缝图像），并由CCD相机捕获图像。通过对图像进行图像处理来评估镜头的光学特性。

测量光学元件

多点微透镜阵列（MLA）也可以同时测量

矩阵创建软件

专用矩阵测量软件可记忆阵列模式，实现平滑的自动测量。
它是MLA研发和质量控制的理想选择，这些研发和质量控制变得越来越大。

MITAKA三鹰光器诺马斯基微分干涉观测

NH的显微镜部分可以配备诺马斯基微分干涉光学元件。
该光学系统可直观地捕获普通明场光学系统无法观察到的数十Å的表面粗糙度和划痕，并可以使用激光探头在现场进行定量粗糙度和阶梯测量。

带有诺马斯基光学器件的NH-3N

包含诺马斯基法学院的
NH系列光路图

测量功能

使用激光探头测量透镜形状测量

・曲率半径、中心坐标值
、圆度、顶点高度、XY坐标、横截面
、3D形状测量、各透镜表面的表面粗糙度
测量

光学表征通过图像处理测量

・有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各镜头的集光位置
、错位、各镜头的对焦光斑尺寸
、透射率

、焦
平面上的图像形成评估（彗差、畸变等）、
景深（可选）
・MTF测量（可选）

MITAKA三鹰光器规范

运动范围（X、Y、Z、AF）

100， 100， 100， 10毫米

X-Y 轴刻度分辨率

0.1微米

自动对焦轴刻度分辨率

0.01微米

测量原理

点自动对焦方法 ISO 25178-605

激光

λ = 635nm 输出，1mW 或更低