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产品资料

OHKURA无纸记录仪

表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A小坂KOSAKA

型号： SEF580A

简介：

KOSAKA小坂台阶仪小坂研究所（KOSAKA）是于1950年创立，日本家發表光學幹槓桿表面粗糙度計，具有悠久歷史與技術背景的專業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。XP操作系统为多种不同表面提供的形貌分析，有半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）探针接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用

详情介绍

KOSAKA小坂台阶仪
SEF580A-G18D

可以进行“表面粗糙度”和“轮廓形状”的两种测量。触摸面板的使用提供了出色的可操作性，例如“切换测量条件”，并且可以快速响应各种工件的测量。

表面粗糙度测量
- 可以在一次测量中分析具有不同标准的参数，并且可以顺利过渡到新标准。
轮廓形状测量
- X轴上的*大测量采样点数高达64，000，可实现高分辨率的长距离测量。

KOSAKA小坂台阶仪表面粗糙度

测量范围/分辨率	Z轴：600微米/0.08纳米
进给速度	0.02~10毫米/秒
唱针	R2μm 0.75mN以下

轮廓形状

测量精度	Z：±0.25%（我们的标准）X：±（1+0.02L）μm或更小 L：测量长度（毫米）
测量范围	Z轴：50毫米 X：100毫米
唱针	R25μm 10~30mN

表面粗度轮廓形状测定仪SEF580A小坂KOSAKA

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