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产品资料

OHKURA无纸记录仪

线扫描测厚仪离线式 Otsuka大冢

型号：

简介：

是一种可以方便地离线检测面内膜厚不均匀性的设备，用于膜的研发和质量控制的抽检。可以高速且高精度地测量整个表面。

详情介绍

可检测薄膜等面内膜厚不均
可以高速高精度地测量整个表面
只有专门从事膜厚测量的制造商才能提供的**支持
通过光谱测量进行高精度膜厚测量
硬件和软件的原创设计

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