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OHKURA无纸记录仪
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OTSUKA大塚电子光学膜测厚仪 铃田科技

型号：
简介：

铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子光学膜测厚仪使用光谱干涉测量的薄膜测厚仪可集成到各种制造设备中可进行实时薄膜厚度测量
详情介绍

铃田（上海）科技有限公司代理OTSUKA大塚电子光学膜测厚仪


  • 使用光谱干涉测量的薄膜测厚仪
  • 搭载高精度FFT薄膜厚度分析引擎（砖利第4834847号）
  • 光纤可以自由地构建测量系统。
  • 可集成到各种制造设备中
  • 可进行实时薄膜厚度测量
  • 支持远程操作和多点测量
  • 采用长寿命、高稳定性白光LED光源
  •   OTSUKA大塚电子光学膜测厚仪
  • 测量对象：
光学膜（硬涂层、AR膜、ITO等 、FPD相关（抗蚀剂，SOI，SiO2等）
OTSUKA大塚电子光学膜测厚仪


硬涂层膜厚分析

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