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产品资料

OHKURA无纸记录仪

OTSUKA大塚线扫描胶片测厚仪

型号：

简介：

铃田（上海）科技有限公司OTSUKA大塚线扫描胶片测厚仪OTSUKA大塚 Zeta电位，粒径，分子量测量系统 ELSZneo

详情介绍

产品信息

特征

采用线扫描方式实现无“遗漏”的全表面薄膜检测
可由专门从事薄膜厚度测量的制造商提供的**支持
高速高精度测量
使用抗颤振的光学系统
宽样品（TD 方向可达 10 m）
硬件和软件的原始设计

探测器可根据薄膜宽度进行扩展（*大10m）
即时分析500mm薄膜厚度数据，实现全宽测量。

规范

薄膜厚度范围	0.7~300微米
测量宽度	500 mm~*大 10 m
测量间隔	10毫秒~
设备尺寸（宽×深×高）	81×140×343 毫米
重量	4 公斤（仅头部）
*大功耗	交流100 V±10% 125VA

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