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产品信息

• 低（残余）延迟测量从0nm
• 在光轴检测的同时，可以高速测量延迟（Re.）（世界上
  *快的处理速度在0.1秒以下）
• 由于没有驱动单元，因此可实现高重复性
• 设置的测量项目更少，测量更简单
• 测量波长为550nm，以及各种波长
• Rth 测量，全
  向角度测量（需要可选的自动旋转倾斜夹具）
• 与拉伸测试仪结合使用时，可以在
  薄膜的偏振特性的同时进行光弹性评估（该系统是定制的）。 ）

• 延迟（ρ[deg.]， Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆比（ε）、方位角（γ）
• 三维折射率（NxNyNz）

• 缓速膜、偏振膜、椭圆膜、视角改善膜、各种功能膜
• 透明、各向异性（玻璃应变、应变等）

什么是 RE-200？

RE-200 将由光子晶体元件（偏振元件）和 CCD 摄像机组成的偏振测量模块与透射偏振光学系统相结合，可实现快速、高精度的相位差（延迟）和主轴方位角测量。 由于偏振强度模式是在 CCD 摄像机的一次拍摄中获得的，因此没有偏振器旋转机制，整个系统配置紧凑，即使在长时间使用时也能保持稳定的性能。

拟合傅立叶变换以计算椭圆率ε方位角γ。

Rth 测量和全向角度测量是可能的 * 夹具主体（旋转：180°，倾斜：±50°）

自动旋转倾斜夹具

测量示例

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