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Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型

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简介:

Otsuka大塚电子线扫描膜厚度计离线型 该设备可离线轻松进行表面厚度不均匀性检测,用于薄膜等的研发和质量控制的抽查。 整个表面可以快速、高精度地测量。

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特点
  • 可以检查薄膜等面内膜厚不均
  • 高速、高精度地测量整个表面
  • 由于我们是薄膜厚度测量的专业制造商,我们可以提供全 面的支持
  • 通过光谱测量实现高精度薄膜厚度测量
  • 硬件和软件的原始设计

 

线扫描图像
即时分析 300mm 方形光谱数据,实现整个不均匀检测和薄膜厚度测量

规格

測定範囲 0.7~300 μm
測定幅 250 mm
測定間隔 10 ms~
装置サイズ(W×D×H) 459×609×927 mm
重量 60 kg
消費電力 AC100 V±10% 125 VA

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