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产品资料

代理Otsuka大塚颗粒尺寸分子量测量 ELSZ-2000S

型号:
简介:

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间 通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析 可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量 增加了广泛的分子量测量和分析功能 支持悬浮高浓度样品的颗粒尺寸测量

详情介绍
用途

它非常适合在界面化学、无机材料、半导体、聚合物、生物、制药和医学领域进行基础和应用研究,不仅处理细颗粒,还处理薄膜和平板样品的表面科学。

  • 新型功能材料
    燃料电池相关(碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属)
    生物纳米相关(纳米胶囊、树突、DDS、生物纳米颗粒)、纳米气泡等

     
  • 陶瓷和着色材料工业
    陶瓷(二氧化硅、氧化铝、氧化钛等)
    无机溶胶的表面改性、分散和聚合控制
    颜料(炭黑和有机颜料)的分散和聚合控制
    浆料样品
    彩色滤光片
    悬浮矿物的收集材料吸附研究

     
  • 半导体领域
    硅晶片表面异物附着的机理 阐明
    研磨剂、添加剂与晶圆表面相互作用的研究
    CMP浆料

     
  • 聚合物和化学工业
    乳液(涂料和粘合剂)的分散和聚合控制、乳胶表面改性(医药和工业)
    聚合物电解质(聚苯乙烯磺酸盐、聚羧酸等)的功能研究、功能性纳米颗粒
    造纸和纸浆造纸工艺控制以及纸浆添加剂研究

     
  • 制药和食品工业
    乳液(食品、香料、医疗和化妆品)的分散和聚集控制、蛋白质功能


  • 脂质体和囊泡的分散和聚合控制、表面活性剂(云苏)的功能
  • 规格

    手势

    测量原理 颗粒大小 动态光散射法(光子相关法)
    分子量 静态光散射方法
    光学 颗粒大小 均入式光学系统
    分子量 均入式光学系统
    光源 大功率半导体激光器
    探测器 高灵敏度 APD
    单元格 粒径/分子量:方形细胞
    温度 0 至 90°C(带梯度功能)
    电源 100V ± 10% 250VA
    尺寸 (WDH) 380(W)×600(D)×210(H)
    重量 22 kg

     

    测量项目
    颗粒大小 0.6 nm ~ 10μm
    分子量 360 ~ 2×107

    测量范围

    测量温度范围 0 ~ 90℃
    测量浓度范围 颗粒大小:0.00001% (0.1ppm) 至 40% *1

    *1(Latex112nm:0.00001 至 10%,牛磺酸:~40%)

     


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