OTSUKA大塚电子VR行业相位差膜RETS-100nx

OTSUKA大塚电子相位差膜RETS-100nx 是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。

实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。

薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。

此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。

*适合光学薄膜的偏振特性评估，如延迟（双折射相位差）的波长色散评估、方向角（光学轴）和粘合角度的自动检测

详细介绍一下RETS-100 和 RETS-100nx

特点

探测器采用多通道光谱仪，可在任意波长下进行高精度延迟（双折射相位差）测量。

• 通过选择倾斜和旋转阶段（可选），可以进行视角表征，如三维折射率参数分析。
• 根据测量对象，可以构建自由样品阶段。
• 微距离（0.1nm*）可以**测量。

测量项目

• 延迟（双折射相位差）
• 延迟（双折射相位差）的波长色散
• 样品倾角
• 方位角和椭圆率
• 偏振度测量
• 光谱测量
• 色度测量
• 三维折射率参数分析
• 海兹*
• 光弹性*

应用

• 光学膜相位差膜、椭圆膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
• 液晶材料、液晶电池偏振测量偏振光学元件、单元（TN、STN、IPS、VA、OCB）

光学系